National Instruments SET-3000

Le système de test de semi-conducteurs National Instruments SET-3000 est une plateforme matérielle avancée spécifiquement conçue pour les applications de test de semi-conducteurs, offrant des capacités précises d'insertion de défauts et de simulation de signaux. Conçu pour s'intégrer aux environnements de test Hardware-in-the-Loop (HiL), le SET-3000 permet aux utilisateurs de reproduire des conditions de défaut critiques telles que les circuits ouverts et les courts-circuits, le rendant indispensable dans les secteurs à enjeux élevés tels que l'automobile et l'aérospatiale, où des protocoles de test rigoureux sont essentiels pour garantir la sécurité et la fiabilité des composants électroniques. Construit sur une plateforme PXI modulaire, le SET-3000 offre une évolutivité et une flexibilité exceptionnelles, permettant des mises à niveau transparentes pour s'adapter aux exigences de test évolutives. Ses modules d'insertion de défauts haute densité permettent aux ingénieurs de simuler des scénarios de défauts complexes tout en maintenant l'intégrité du signal. Conçu pour optimiser les applications de test de production, le SET-3000 est capable de tests rapides et répétables, permettant aux fabricants d'identifier et de rectifier rapidement les défaillances potentielles des appareils pendant le cycle de production. L'intégration avec des logiciels largement utilisés tels que LabVIEW et TestStand améliore son utilité dans les systèmes de test automatisés. De plus, le SET-3000 propose des conditions de défauts programmables pour évaluer minutieusement les performances des signaux numériques et analogiques dans divers scénarios, le positionnant comme un outil vital pour l'analyse des performances des appareils. Ses remarquables capacités d'acquisition de données en temps réel et de traitement de signaux à haute vitesse font du SET-3000 une solution fiable pour les lignes de production de semi-conducteurs, où un temps d'arrêt minimal et des performances constantes sont primordiaux. La conception compacte et économe en énergie amplifie encore son adéquation aux environnements de laboratoire et de fabrication avec des contraintes strictes d'espace et de puissance.

Le SET-3000 fonctionne dans une plage de température de 0°C à 40°C avec un refroidissement par air forcé et peut supporter des températures de stockage de -40°C à 85°C. Il prend en charge des niveaux d'humidité relative de 10 % à 90 % pendant le fonctionnement et de 5 % à 95 % pendant le stockage, garantissant des performances fiables même dans des conditions difficiles. Avec une altitude de fonctionnement maximale de 2000 mètres au-dessus du niveau de la mer, le SET-3000 est prêt pour divers environnements de test. Les capacités avancées de simulation de défauts de ce système incluent les circuits ouverts et les courts-circuits, ainsi que les courts-circuits broche à broche, ce qui améliore encore son application dans le domaine des semi-conducteurs.