National Instruments 778739-01

El número de pieza 778739-01 de National Instruments, también conocido como PXI-2529, es un módulo de conmutación matricial PXI de alta densidad optimizado para las rigurosas exigencias de los entornos de prueba automatizados. Ofrece opciones de configuración versátiles, admitiendo una matriz de 8x16 o 4x32 de 2 hilos según los accesorios del bloque de terminales. Equipado con relés electromecánicos, el módulo garantiza un desplazamiento térmico mínimo, lo que permite mediciones de bajo voltaje fiables, al mismo tiempo que mantiene un rendimiento excepcional en aplicaciones de conmutación de señales de alta potencia. Diseñado para manejar un voltaje de conmutación máximo de 150 V entre canales y a tierra, el 778739-01 es adecuado para una variedad de escenarios de prueba; sin embargo, se recomienda precaución al conmutar cargas inductivas, ya que los transitorios de alto voltaje pueden exceder los límites nominales del módulo, lo que podría afectar la vida útil del relé y la funcionalidad general.

Este módulo proporciona una potencia de conmutación máxima de 30 W (o 37.5 VA) y puede manejar una corriente de conmutación máxima de 1 A y una corriente de transporte máxima de 2 A por canal, lo que lo hace ideal para el enrutamiento fiable de señales de alta potencia. Además, el PXI-2529 demuestra un rendimiento de RF impresionante, con valores de diafonía registrados en menos de -80 dB a 10 kHz, -65 dB a 100 kHz y -50 dB a 1 MHz, junto con un ancho de banda de punto de cruce único que supera los 10 MHz en un sistema de 50 Ω. Estas especificaciones garantizan una interferencia mínima entre canales, lo cual es fundamental para mantener la integridad de la señal y lograr mediciones precisas.

Para las funciones de disparo, el módulo está equipado con disparos de entrada y salida procedentes de las líneas de disparo PXI de 0 a 7, con un ancho de pulso mínimo de 150 ns. El voltaje del panel frontal es de +3.3 V TTL con una corriente nominal de 8 mA, y el ancho de pulso del disparo de salida es seleccionable por software, oscilando entre 1 µs y 62 µs, lo que mejora la versatilidad del módulo en diversas aplicaciones de prueba.